进口电子显微镜 FEI扫描电子显微镜Teneo

FEI 扫描电子显微镜 (SEM) 解析从光学范畴到亚纳米长度尺度的特性。我们灵活的 SEM 可满足各种需求，从科学和工程中的材料表征一直到自然资源中的应用、制造和生物系统。

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——超高分辨率成像和高通量分析性能。
FEI 的 Teneo扫描电镜SEM 可为金属研究人员、学术和工业研究机构提供超高分辨率成像和高通量分析性能。
检测领域的一场变革 - 独特的 TrinityTM 检测方法能够对广泛的样本提供极高对比度，从而使得成像速度极快并令图像易于解释。通过与标准室型检测器同步运行的三个单独的镜头内检测器，可从各个角度执行同步检测，从而节省时间、提供*多信息并防止样本污染和受损。
美国进口电子显微镜_FEI扫描电子显微镜_Teneo扫描电镜SEM材料科学应用
新的Teneo扫描电镜SEM 可对金属、复合材料和涂层等多种材料进行检测，并且整合了创新功能，可提高通量、精度和易用性。
执行高分辨率、高对比度成像，对磁性样本也不例外
同步检测材料、地形和边缘对比度，可分析完整的材料属性
执行极高通量表征，可实现形态学、化学和晶体学分析
提供独特的《用户指南》和 SEM 常见应用的逐步工作流程，任何经验水平的操作员都能即刻上手